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ISO 10110-7:2017
光学及びフォトニクス-光学素子及びシステムの製図-第7部:表面不完全度公差
Optics and photonics -- Preparation of drawings for optical elements and systems -- Part 7: Surface imperfections

発行年月日: 2017-08-16
状態: 有効
邦訳版: 無

TC ISO/TC 172/SC 1
ICS 01.100.20
37.020
対応JIS規格 JIS B 0090-7:2021 (IDT)
備考
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